什么是掃描電子顯微鏡，澤攸科技小編給大家介紹一下掃描電子顯微鏡。

1930年代和1940年代，除透射電子顯微鏡外，其他類型的電子顯微鏡，如掃描、發(fā)射、反射、場發(fā)射等也相繼在德國提出和試驗。 經(jīng)過一段時間的斷斷續(xù)續(xù)，掃描電鏡再次受到關注，在解決了一些關鍵技術問題后，發(fā)展迅速。 他可以直接觀察塊狀物質(zhì)的表面，并提供具有很強三維效果的圖像。 因此，在科研和工業(yè)中得到了廣泛的應用。 它已成為生產(chǎn)量很高的電子顯微鏡。接下來澤攸科技小編帶大家深入探討一下，什么是掃描電子顯微鏡。
掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察方法。 它利用聚焦的很窄的高能電子束對樣品進行掃描，通過電子束與物質(zhì)的相互作用，激發(fā)各種物理信息，對信息進行采集、放大、再成像，以觀察表征物質(zhì)的微觀形態(tài)。

掃描電子顯微鏡基本的功能仍然是放大鏡的功能，它實現(xiàn)了人眼和光學顯微鏡無法觀察到的樣品更詳細的特征。 廣泛應用于材料科學研究、生物學、工業(yè)制造等領域。

掃描電子顯微鏡的制造是基于電子和物質(zhì)的相互作用。 當一束高能入射電子轟擊材料表面時，激發(fā)區(qū)會產(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子以及可見光、紫外光和紅外光。 該區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。 同時，還可以產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動（聲子）和電子振蕩（等離子體）。 原則上，可以利用電子與物質(zhì)的相互作用來獲得被測樣品本身的各種物理化學性質(zhì)，如形貌、成分、晶體結構、電子結構、內(nèi)部電場或磁場等。

掃描電子顯微鏡對我們來說似乎有點陌生，但它存在于我們的生活中。 我們需要進一步了解它，才能更好地利用它為人類創(chuàng)造價值。 希望今天小編介紹的關于什么是掃描電子顯微鏡的內(nèi)容能給您的生活帶來更多的幫助，從而在生活中取得進步。