如何進行掃描電鏡的標定？

掃描電鏡（SEM）的標定（Calibration）主要用于確保測量的準確性，包括尺寸測量、放大倍率、電子束偏轉等。

掃描電鏡中常見的成像模式有哪些？

掃描電鏡（SEM）中常見的成像模式有多種，每種模式用于不同的分析目的，下面是一些常見的成像模式：

掃描電鏡（SEM）的圖像生成過程涉及電子束與樣品表面相互作用的復雜過程。

是否需要烘干處理取決于樣品的材質、含水量以及掃描電鏡（SEM）模式。

非導電樣品在掃描電鏡（SEM）下成像時，由于電子束轟擊樣品會導致電荷積累，進而產(chǎn)生充電效應，這可能導致圖像畸變、漂移甚至無法成像。

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，樣品需要穩(wěn)定固定在樣品臺上，以避免成像時的漂移、振動或充電效應。

掃描電鏡（SEM）的空間分辨率通常通過以下幾種方法進行測定：

使用掃描電子顯微鏡（SEM）進行納米級觀察時，需要特別注意以下幾個關鍵因素，以確保高分辨率成像、準確分析，并減少可能的誤差或偽影。