碳納米管（CNTs）中往往不可避免地存在結(jié)構(gòu)缺陷。這些結(jié)構(gòu)缺陷不僅會(huì)破壞晶格結(jié)構(gòu)的完整性，還有可能嚴(yán)重影響碳納米管的機(jī)械性能。但從另一個(gè)角度看，刻意而準(zhǔn)確地在CNTs中調(diào)控缺陷，可以按需求調(diào)節(jié)其機(jī)械性能。本文介紹了一種利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中準(zhǔn)確調(diào)節(jié)CNTs缺陷的技術(shù)。這種技術(shù)不僅調(diào)節(jié)準(zhǔn)確、過(guò)程可逆并且還具有較高重復(fù)性，對(duì)基于CNTs的諧振器器件研發(fā)意義重大。相關(guān)研究成果由廈門大學(xué)及日本NIMS研究所聯(lián)合完成，發(fā)表在《Nano Lett》上。

   澤攸科技的PicoFemto原位TEM-STM系統(tǒng)在該研究中穩(wěn)定地完成了載樣、亞納米級(jí)操縱、施加高頻交變電場(chǎng)以及脈沖電流的工作。

研究者在TEM中，利用電子束輻照，將CNT的一端焊接在原位樣品桿的W針尖位置。通過(guò)在金電極和W針尖之間施加交變電流，使CNT發(fā)生諧振。

     研究者利用納米操縱單元分別將CNT兩端與W針和金電極接觸，并通過(guò)脈沖電流和電子束輻照實(shí)現(xiàn)對(duì)CNT中缺陷的調(diào)制。此過(guò)程可以通過(guò)TEM圖像實(shí)時(shí)原位觀測(cè)。

 通過(guò)在原位探針桿上安置力學(xué)模塊，研究者進(jìn)一步研究了調(diào)制后的CNT的機(jī)械性能。

      想了解更多實(shí)驗(yàn)細(xì)節(jié)及研究案例可發(fā)送郵件至support@zeptools.com詳詢。公眾號(hào)也會(huì)不斷更新各種產(chǎn)品的研究案例。

公司原位TEM/SEM系列核心產(chǎn)品：

1. 原位TEM/SEM亞納米操縱手

2. 原位TEM/SEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

3. 原位TEM/SEM力學(xué)-電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

4. 原位TEM/SEM光學(xué)-光電測(cè)量系統(tǒng)

5. 原位TEM/SEM加熱/電化學(xué)/電學(xué)/液體多功能測(cè)量系統(tǒng)

6. 原位TEM/SEM流動(dòng)式電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

7. 原位TEM/SEM流動(dòng)式氣體測(cè)量系統(tǒng)

新品介紹：

1.單傾TEM三樣品桿（一次載入三樣品，測(cè)試效率倍增）

2.雙傾TEM三樣品桿

3.樣品桿預(yù)抽泵組（實(shí)驗(yàn)前預(yù)抽，實(shí)驗(yàn)后保存）

安徽澤攸科技有限公司

ZepTools Technology Co., Ltd.

郵箱：support@zeptools.com

主頁(yè)：utvdab.com
電話：18817557412(微信同號(hào))