掃描電鏡對(duì)樣品的顆粒大小沒(méi)有要求

臺(tái)掃電鏡（SEM）對(duì)樣品的顆粒大小并沒(méi)有嚴(yán)格的要求，但顆粒大小會(huì)影響成像效果和分析結(jié)果。

在使用臺(tái)掃電鏡分析樣品時(shí)工作距離對(duì)其觀察結(jié)果有何影響

在使用臺(tái)掃電鏡（SEM）分析樣品時(shí)，工作距離（working distance, WD）對(duì)觀察結(jié)果有顯著影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）在低真空和高真空模式下工作時(shí)存在一些顯著的區(qū)別。

提高掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數(shù)是為了觀察樣品的更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，工作距離（working distance，WD）是指電子束槍到樣品表面的距離。

掃描電鏡（SEM）工作時(shí)鏡筒內(nèi)的真空度是確保電子束正常傳輸和樣品表面電子散射檢測(cè)的重要因素。

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中分析表面粗糙度是研究材料表面特性的重要方面。表面粗糙度可以影響材料的物理、化學(xué)和機(jī)械性質(zhì)，因此準(zhǔn)確分析表面粗糙度在材料科學(xué)、工程和其他領(lǐng)域中非常重要。

掃描電鏡（SEM）的背散射電子（BSE）圖像可以用于成分分析。背散射電子是從樣品中散射回來(lái)的高能量電子，其強(qiáng)度與樣品中原子序數(shù)的平均值有關(guān)。