如果掃描電鏡（SEM）圖像對(duì)比度太低，圖像會(huì)顯得灰蒙蒙、細(xì)節(jié)不清，無法分辨結(jié)構(gòu)差異。你可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行優(yōu)化：

一、調(diào)整顯微鏡參數(shù)（優(yōu)先）

1. 優(yōu)化加速電壓（kV）

電壓過高：會(huì)導(dǎo)致電子穿透樣品，減少表面信息，對(duì)比度下降；

電壓過低：信號(hào)過弱、噪聲大；

建議：嘗試調(diào)整到 3–10 kV 范圍內(nèi)，根據(jù)樣品導(dǎo)電性和厚度靈活調(diào)整。

2. 調(diào)節(jié)工作距離（WD）

工作距離影響圖像分辨率和景深；

適當(dāng)縮短 WD，有助于提升表面成像清晰度和對(duì)比度。

3. 選擇合適的探測(cè)器

二次電子探測(cè)器（SEI）：擅長顯示表面形貌、邊緣清晰；

背散射電子探測(cè)器（BSE）：能展示成分差異，增強(qiáng)材料對(duì)比度；

根據(jù)觀察目標(biāo)切換探測(cè)器類型。

4. 優(yōu)化探測(cè)器電壓/增益

增加對(duì)比度設(shè)置；

減少亮度設(shè)置，避免圖像過曝；

一般在 SEM 軟件界面中通過滑塊實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)。

二、樣品準(zhǔn)備方面的優(yōu)化

1. 改善樣品導(dǎo)電性

非導(dǎo)體樣品易因帶電成像發(fā)白、對(duì)比度差；

建議進(jìn)行金屬噴鍍（如金、鉑、碳）；

或使用低電壓成像 + 導(dǎo)電膠/導(dǎo)電碳帶輔助接地。

2. 樣品表面清潔

污染、油脂、水汽都會(huì)造成圖像灰暗、對(duì)比不明顯；

建議使用等離子清洗儀、酒精清洗或真空干燥處理樣品。

三、圖像采集參數(shù)優(yōu)化

1. 增加圖像積分時(shí)間

提高信噪比，使邊緣更清晰，圖像更穩(wěn)定；

適用于非活體樣品，注意采集時(shí)間不宜過長以免樣品損傷。

2. 使用較高分辨率模式

高分辨率下圖像細(xì)節(jié)更加突出，有助于增強(qiáng)視覺對(duì)比。