掃描電鏡選擇合適的探針用于不同類型的樣品掃描取決于樣品的物理和化學(xué)性質(zhì)、掃描的目的以及設(shè)備的特性。以下是選擇探針時需要考慮的關(guān)鍵因素和一些常見的探針類型：

1. 樣品的硬度與機(jī)械特性

硬樣品（如金屬、陶瓷等）：硬度較大的樣品通常需要使用耐磨損的探針，以防止探針在掃描過程中磨損或損壞。

探針類型：金剛石涂層探針、碳化硅探針或硬質(zhì)材料制成的探針。

軟樣品（如生物樣品、聚合物等）：軟樣品容易受到探針的機(jī)械損傷，需要使用柔性或鈍化的探針，以減少對樣品表面的影響。

探針類型：鈍化的硅探針或表面鍍有金的探針。

2. 樣品的導(dǎo)電性

導(dǎo)電樣品（如金屬、半導(dǎo)體等）：

對導(dǎo)電性要求高的樣品，可以使用導(dǎo)電探針，以確保良好的電接觸，同時獲得高質(zhì)量的電學(xué)信息。

探針類型：鉑、鉑/銥合金涂層探針，金探針。

非導(dǎo)電樣品（如絕緣材料、某些有機(jī)物等）：

對于非導(dǎo)電樣品，可以使用標(biāo)準(zhǔn)的非導(dǎo)電探針，或者在表面上進(jìn)行導(dǎo)電處理（如噴涂金屬薄膜）。

探針類型：標(biāo)準(zhǔn)硅探針。

3. 表面形貌與粗糙度

平滑表面：

對于光滑表面，通常需要使用尖端半徑較小的高分辨率探針，以獲得細(xì)節(jié)豐富的圖像。

探針類型：尖端半徑在1-10 nm范圍的高分辨率探針。

粗糙表面：

對于粗糙或有顯著形貌變化的表面，需要選擇更為堅固的探針，以避免探針尖端損壞，同時確保能夠穩(wěn)定掃描大范圍的表面形貌。

探針類型：中等尖端半徑（10-50 nm）的探針，或耐用型探針。

4. 掃描模式

接觸模式掃描：

在接觸模式下，探針與樣品表面保持物理接觸。因此，需要選擇耐磨損的探針，尤其是在長時間掃描中。

探針類型：耐磨損探針，如金剛石涂層探針。

非接觸模式或輕敲模式掃描：

在這些模式下，探針與樣品表面保持一定距離或輕微接觸?？梢允褂幂^為敏感且尖端半徑較小的探針，以提高掃描分辨率。

探針類型：高靈敏度的硅探針或非接觸探針。

5. 樣品的化學(xué)活性與環(huán)境條件

化學(xué)活性樣品（如化學(xué)合成物、生物樣品等）：

化學(xué)活性較高的樣品容易與探針發(fā)生反應(yīng)，因此可以選擇化學(xué)惰性的探針。

探針類型：金或鉑涂層探針，因為這些材料具有良好的化學(xué)穩(wěn)定性。

液體環(huán)境下的掃描：

在液體中進(jìn)行掃描時，需要選擇專門設(shè)計的液相探針，它們通常具有防水涂層，能夠穩(wěn)定操作。

探針類型：液相探針或涂層探針，確保耐受液體環(huán)境。

6. 掃描目的

力學(xué)性質(zhì)分析（如AFM中的力譜）：如果主要目的是測量樣品的力學(xué)性質(zhì)，需要選擇具有特定彈簧常數(shù)的探針，以適應(yīng)測量需求。

探針類型：彈簧常數(shù)合適的探針，通常根據(jù)樣品的硬度選擇。

電學(xué)性質(zhì)測量（如導(dǎo)電AFM）：測量樣品的電學(xué)性質(zhì)時，導(dǎo)電探針是必須的。

探針類型：導(dǎo)電涂層探針，如鉑、銥、金涂層探針。

7. 探針的尖端半徑

高分辨率成像：

為了獲取高分辨率的圖像，選擇尖端半徑較小的探針（<10 nm），能夠提高分辨率，捕捉更細(xì)微的表面結(jié)構(gòu)。

探針類型：超尖端探針（Super Sharp Probes，SSP）。

常規(guī)成像：

對于一般表面成像，可以選擇尖端半徑較大的探針（10-50 nm），適合大多數(shù)樣品的掃描。

探針類型：標(biāo)準(zhǔn)硅探針。

8. 商業(yè)探針品牌與選擇

常見的探針供應(yīng)商如Bruker、Olympus、Nanoworld等提供多種類型的探針，選擇時可以根據(jù)廠商的探針規(guī)格進(jìn)行定制。

總結(jié)

選擇探針時，需要綜合考慮以下幾個關(guān)鍵因素：

樣品的機(jī)械和電學(xué)特性：硬度、導(dǎo)電性、化學(xué)活性。

掃描模式：接觸模式、非接觸模式或液相環(huán)境下的操作。

分辨率要求：根據(jù)實驗?zāi)康倪x擇適當(dāng)?shù)奶结樇舛税霃健?/span>

實驗環(huán)境：如液體或氣體環(huán)境下的掃描。

以上就是澤攸科技小編分享的如何選擇合適的探針用于不同類型的樣品掃描。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢