掃描電鏡（SEM）圖像的大小受到樣品與電子槍之間的距離（工作距離）的影響。這是由于SEM的工作原理決定的。

在SEM中，電子束從電子槍中產生并聚焦到樣品表面，然后經過探測器進行信號采集。電子束的聚焦和成像是通過在樣品和電子槍之間的電場進行調節(jié)來實現的。工作距離是指樣品表面到電子槍的距離，它直接影響了電子束的聚焦和成像。

當工作距離發(fā)生變化時，電子束在樣品表面的聚焦效果也會發(fā)生變化，進而影響到圖像的大小和清晰度。通常情況下，當工作距離增加時，電子束會擴散并失去焦距，導致圖像變得模糊并且可能會出現尺寸變化。相反，當工作距離減小時，電子束會更好地聚焦在樣品表面上，圖像將更清晰并且尺寸可能會變小。

因此，在進行SEM圖像采集時，需要盡量保持恒定的工作距離，以確保獲得一致和可比較的圖像。此外，還應該在進行圖像分析和測量時考慮到工作距離的影響，以確保獲得準確的結果。

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