許多掃描電鏡都配備了可旋轉(zhuǎn)和傾斜的樣品臺(tái)。這些功能對(duì)于樣品的觀(guān)察和分析非常有用，因?yàn)樗鼈冊(cè)试S在不同方向上查看樣品表面，并以不同的角度觀(guān)察樣品的微觀(guān)結(jié)構(gòu)。以下是關(guān)于SEM樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)和傾斜的一些關(guān)鍵信息：

樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)： SEM通常具有樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)功能，允許用戶(hù)將樣品在水平平面上旋轉(zhuǎn)。這對(duì)于查看樣品的不同部分或獲得多個(gè)視角的圖像非常有用。旋轉(zhuǎn)功能通常通過(guò)SEM操作軟件或控制面板進(jìn)行控制。

樣品臺(tái)傾斜： SEM還通常具有樣品臺(tái)傾斜功能，允許用戶(hù)將樣品臺(tái)在垂直平面上傾斜。這對(duì)于觀(guān)察樣品的側(cè)面、斜面或不同角度的特征非常重要。傾斜功能也可通過(guò)SEM操作軟件或控制面板進(jìn)行控制。

觀(guān)察角度： 樣品臺(tái)的旋轉(zhuǎn)和傾斜功能可以使用戶(hù)在不同的觀(guān)察角度下獲得樣品的高分辨率圖像。這對(duì)于分析樣品表面的微觀(guān)結(jié)構(gòu)、紋理、顆粒分布等信息非常有用。

分析應(yīng)用： 旋轉(zhuǎn)和傾斜功能在SEM的各種應(yīng)用中非常重要，包括材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、地質(zhì)學(xué)、半導(dǎo)體制造等。在這些領(lǐng)域中，用戶(hù)需要查看樣品的不同方面以獲取更全的信息。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的樣品臺(tái)是否可以旋轉(zhuǎn)或傾斜。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢(xún)