在掃描電鏡（SEM）中，次級(jí)電子和反射電子是兩種重要的電子信號(hào)類(lèi)型，它們?cè)谛纬蓤D像和提供樣品信息方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

次級(jí)電子：次級(jí)電子是由于電子束與樣品表面相互作用后，從樣品表面解離出來(lái)的電子。這些電子對(duì)應(yīng)的圖像稱(chēng)為次級(jí)電子圖像，它們?cè)赟EM中生成樣品的表面形貌和紋理圖像。次級(jí)電子圖像主要用于顯示樣品的表面特征，因?yàn)榇渭?jí)電子對(duì)樣品表面的形貌和拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)非常敏感。樣品表面的凸凹不平和化學(xué)組成的變化都會(huì)在次級(jí)電子圖像中表現(xiàn)出來(lái)。

反射電子：反射電子是由電子束與樣品原子核之間的庫(kù)侖散射作用產(chǎn)生的電子。這些電子被散射回到探測(cè)器，形成反射電子圖像。反射電子圖像主要用于顯示樣品的原子序數(shù)和密度變化。相對(duì)于次級(jí)電子圖像，反射電子圖像提供更多關(guān)于樣品成分和材料的密度變化信息。因此，反射電子圖像在分析材料的元素組成和晶體結(jié)構(gòu)方面非常有用。

通過(guò)同時(shí)采集次級(jí)電子圖像和反射電子圖像，可以綜合獲得關(guān)于樣品表面形貌和成分的詳細(xì)信息。這兩種電子信號(hào)在SEM中的應(yīng)用使得我們能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行高分辨率的觀(guān)察和分析，從而在材料科學(xué)、納米科技、生物學(xué)等領(lǐng)域中提供重要的研究工具。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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