掃描電子顯微鏡（SEM）具有多種工作模式，可根據(jù)不同的需求和應(yīng)用選擇適當?shù)哪Ｊ?。以下是常見的幾種SEM工作模式：

高真空模式：高真空模式是SEM的基本工作模式。在該模式下，樣品和檢測器被置于真空環(huán)境中，以減少電子束與氣體的相互作用，提供清晰的圖像和較高的分辨率。高真空模式適用于大多數(shù)樣品觀察和分析，尤其是固態(tài)樣品。

低真空模式：低真空模式允許在較高的氣壓下進行觀察，而無需將樣品進行涂覆或處理。這種模式適用于非導(dǎo)電樣品、生物樣品、濕潤樣品和松散樣品等不適合在高真空下觀察的樣品。低真空模式可提供更高的樣品適應(yīng)性，并減少電子束與氣體相互作用產(chǎn)生的充電效應(yīng)。

透射電子顯微鏡模式：某些SEM設(shè)備具備透射電子顯微鏡模式，允許使用透射電子探測器進行樣品的透射電子顯微觀察。TEM模式可以提供更高的分辨率和更詳細的樣品內(nèi)部信息，適用于納米級別的結(jié)構(gòu)和成分分析。

掃描透射電子顯微鏡模式：STEM模式將電子束掃描到樣品上，同時收集透射電子的散射信號，用于樣品表面的高分辨率成像和元素分析。STEM模式在高分辨率成像和原子級結(jié)構(gòu)分析方面具有很高的能力。

分析模式：SEM還可以與各種分析技術(shù)結(jié)合使用，例如能量色散X射線光譜和電子背散射衍射。這些分析技術(shù)可用于獲取樣品的化學(xué)成分、結(jié)晶結(jié)構(gòu)、晶格取向等信息。

每種工作模式具有不同的優(yōu)勢和適用范圍，具體的選擇應(yīng)根據(jù)樣品類型、所需分辨率、分析目的和設(shè)備功能來確定。在使用SEM之前，建議參考SEM制造商的指南和技術(shù)規(guī)格，以了解具體設(shè)備的工作模式和操作方法。

ZEM18臺式掃描電鏡

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