掃描電鏡的工作距離是指樣品表面與電子槍之間的距離。工作距離的大小可以通過調節(jié)電子槍的位置來改變。

工作距離對于SEM觀察結果有重要影響，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

深度焦點：工作距離的改變會導致深度焦點的變化。較大的工作距離通常會提供更大的深度焦點范圍，使得樣品的不同深度區(qū)域都能夠保持相對清晰的成像。相反，較小的工作距離將導致較小的深度焦點范圍，要求樣品表面與電子槍之間的高度均勻。

放大倍率：工作距離的改變還會影響到放大倍率。較大的工作距離通常與較大的放大倍率相關，可以實現(xiàn)高放大倍率的觀察。較小的工作距離則會限制放大倍率的選擇。

解析度：工作距離對SEM的解析度也有一定影響。較大的工作距離可以提供較高的解析度，使得更細微的細節(jié)可以被觀察到。較小的工作距離可能會降低解析度。

信號檢測效率：工作距離的改變還會對信號檢測效率產(chǎn)生影響。較大的工作距離可以提高信號檢測效率，使得樣品表面反射或散射的電子信號更容易被探測到。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的工作距離及觀察結果的影響。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢