如何使用掃描電鏡SEM測(cè)量樣品的形貌和尺寸

使用掃描電子顯微鏡（SEM）?測(cè)量樣品的形貌和尺寸是其常見的應(yīng)用之一。

如何使用掃描電鏡檢測(cè)樣品中的孔隙和缺陷？

使用掃描電子顯微鏡（SEM）?檢測(cè)樣品中的孔隙和缺陷是一種常用的方法，尤其在材料科學(xué)、金屬加工、半導(dǎo)體和納米技術(shù)等領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中進(jìn)行多點(diǎn)元素分布映射（即元素成分的空間分布分析），通常通過結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS/EDX）技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

2024年10月10-13日，中國(guó)物理學(xué)會(huì)2024秋季學(xué)術(shù)會(huì)議將在海南國(guó)際會(huì)展中心舉行。

通過掃描電鏡（SEM）?進(jìn)行樣品的化學(xué)組成分析，通常需要結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS，Energy Dispersive X-ray Spectroscopy）技術(shù)。

在掃描電鏡（SEM）?中進(jìn)行自動(dòng)化圖像拼接（又稱為馬賽克成像或拼圖成像）是實(shí)現(xiàn)大面積樣品高分辨率圖像的有效方式。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，樣品旋轉(zhuǎn)功能可以通過調(diào)整樣品的空間方向，影響成像的視角和樣品表面特征的可見性。

掃描電鏡（SEM）?中的真空環(huán)境對(duì)樣品的成像效果有著至關(guān)重要的影響，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：